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喀嚦聲分析儀NF-5035是一款手持式EMI分析儀器，頻率范圍高達30MHz；利用EMI輻射干擾其測試本質是測量被測品產生的干擾電磁場，采用高精度三維磁場探頭/單維電場探頭作為輻射干擾信號的感應磁場Z小量程低至1pT，1mV/m電場；配合免費的EMI分析軟件，實現(xiàn)對EMI低頻輻射干擾的分析測試工作，進而縮短產品測試工作，數(shù)據(jù)處理采用高速DSP（數(shù)字信號處理器）芯片能精確快速處理探頭感應

近場探頭組HZ530（1G有源近場探頭）是由用于EMI電磁輻射干擾診斷的三個有源寬帶探頭組成。這些探頭可與輸入阻抗為50Ω的HAMEG頻譜分析儀相連，探頭可通過頻率分析儀或電池來供電。這些探頭具有細長的外形，因此甚至在空間狹窄的測試環(huán)境中也可接觸到測試對象。

有源近場探頭HZ540HZ550（3G）?HZ540和HZ550為有源近場探頭組套裝，設計用于在解決電磁輻射問題時提供診斷幫助。這些套件分別由三個或五個不同的手持式探頭組成。它們擁有不同的靈敏度和接收特性，可結合各種頻譜分析儀、EMI接收機或示波器使用。

PBS2近場探頭組（前置放大器UBBV2）DC-9G何頻譜分析儀、示波器或EMI測試接收機，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測量需求。 PBS2近場探頭組包括4個磁場探頭和1個電場探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動帶來的影響

PBS1近場探頭組（DC-9G）適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測試接收機，頻率范圍超寬，滿足您現(xiàn)在以及未來的測量需求。PBS1近場探頭組包括4個磁場探頭和1個電場探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架，固定探頭組，以消除抖動帶來的影響。

近場探頭EM5030（DC-3G）是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；檢測模塊附近的磁場環(huán)境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的

EMI傳導輻射預測試套裝EMC-SET2（3G）包含所有必要的儀器和EMI分析軟件，EMC-SET2能快速產評估產品的輻射測試和傳導測試，使用EMI分析軟件分析其產品是否滿足電磁兼容所相對應的標準（EMI分析軟件內置多種電磁兼容標準），以及產品的快速整改測試。

EMI輻射干擾測EMC-3套裝（1Hz-9.4G）具有便攜、易用等特點，*覆蓋1Hz-9.4G。套裝內HF-60105頻譜分析儀，內置均方根（RMS）檢波器，配合HyperLOG60100對數(shù)周期天線完成EMC遠場測試，專業(yè)EMI電磁兼容分析軟件，內置多種標準限值，滿足EN55011/EN55022測試要求。